جهاز فنيرسي لاختبار الترانزستورات والمكثفات LCR متعدد الوظائف موديل: LCR-P1
المنتج ده خلص من الفرع حالياً، فمش هينفع نزود الكمية.
يُشترى معاً عادةً
هذا المنتج
جهاز فنيرسي لاختبار الترانزستورات والمكثفات LCR متعدد الوظائف موديل: LCR-P1
عن هذا المنتج
نظرة عامة على المنتج
الـ FNIRSI LCR-P1 هو محلل مكونات إلكترونية متعدد الوظائف ذكي فائق الضغط مصمم للتعرف التلقائي والاختبار التشخيصي لأشباه الموصلات المنفصلة والمكونات السلبية والأجهزة بالإنفراريد. مزوّد بدايرة استشعار تلقائي FPGA/MCU داخلية، هذا الجهاز المحمول بيلغي تماماً الحاجة لتحديد توصيلات الجهاز يدوياً أو البحث عن أرقام الأجزاء.
ببساطة ضع مكوناً ذا طرفين أو ثلاثة طرفيات في سوكيت ZIF المتين ذي القفل، والـ LCR-P1 بيصنّف الجهاز تلقائياً ويرسم توزيع بناته ويقيس مقاييس صحته (منها ESR المكثف وعتبات بوابة MOSFET وكسب الترانزيستور وتيارات التسريب) على شاشة ملونة حادة 1.44 بوصة. هو رفيق فعّال وموفر للوقت لفرز المكونات وتطوير الإلكترونيات وتشخيص PCB.
المميزات الرئيسية
محرك كشف تلقائي بزرار واحد: بيخفض وقت فرز المكونات لثوان بالتعرف التلقائي على نوع المكون وتوزيعات الطرفيات ومنحنيات المعاملات الرئيسية بنقرة واحدة.
مصفوفة اختبار Zener ثنائية المنطقة: تتميز بمسار تحليل جهد منخفض قياسي (0.01V إلى 4.5V) إلى جانب مسار اختبار جهد عالٍ مخصص (حتى 32V) مصمم خصيصاً لتقييم حدود انهيار Zener الصناعية.
تيليميتري شامل لأشباه الموصلات: بيفك فوراً مقاييس داخلية عميقة زي كسب الترانزيستور (hFE) وسعة الوصلة (Cg) وانخفاض الجهد الأمامي (Uf) ومقاومة Drain-Source (RDS(on)).
تشخيص متقدم للمكونات السلبية: بيقيس بصمات السعة حتى 100 mF مع تسجيل مقاومة السلسلة المكافئة (ESR) وVloss للكشف الفوري عن المكثفات المتدهورة أو الجافة.
مفكك NEC للإنفراريد مدمج: يشمل نافذة استقبال IR على البوردة بتلتقط وتحلل وترسم تلقائياً الموجات وأكواد الأوامر وبروتوكولات العناوين من ريموت كونترولات شائعة.
المواصفات التقنية
فئة المكون | المواصفة | نطاق القياس والتفاصيل |
|---|---|---|
عام | الماركة / الموديل | FNIRSI / LCR-P1 |
شاشة العرض | شاشة ملونة عالية التباين 1.44 بوصة | |
مصدر الباور | بطارية ليثيوم قابلة للشحن 300mAh (Type-C 5V/1A) | |
الأبعاد | 71×87×28 مم | |
ترانزيستورات ثنائية القطبية | نطاق الكسب (β / hFE) | 10 < β < 600 |
المعاملات المستخلصة | hFE، جهد Base-Emitter (Ube)، Ic/Ie، تسريب (Iceo، Ices)، Uf ديود الحماية | |
ديودات وZener | ديود قياسي / Zener | جهد أمامي <4.5V / سعة الوصلة وتسريب عكسي |
منطقة Zener عالية الجهد | 0.01V إلى 32V (منطقة سوكيت K-A-A مخصصة) | |
FETs وIGBTs | أنواع الأجهزة المدعومة | JFET، IGBT، MOSFET N وP-Channel |
مقاييس MOSFET | جهد العتبة (Vt)، سعة البوابة (Cg)، مقاومة التشغيل (Rds)، Uf الديود | |
ثايريستورات (SCR) | حدود تشغيل البوابة | جهد تشغيل <5V / تيار تشغيل البوابة <6mA |
مكونات سلبية (LCR) | نطاق السعة | 25 pF إلى 100 mF (يعرض السعة وVloss وESR) |
نطاق المقاومة | 0.01Ω إلى 50MΩ | |
نطاق الملف | 10µH إلى 1000µH (يعرض الملف ومقاومة DC) | |
اختبارات مساعدة | قياس البطارية | 0.1V إلى 4.5V (يعرض الجهد ويكشف القطبية تلقائياً) |
فك تشفير الإنفراريد | بروتوكول NEC (بيفك العنوان وكود الداتا ويرسم الموجة) |
الاستخدامات الرئيسية
التحقق من المواصفات والمقلدات: اختبار سريع للمكونات غير المسمّاة أو المشتبه بها للتحقق من المواصفات الحقيقية المطابقة قبل اللحام.
تدقيق صحة SMD والإلكتروليتي: فهرسة ESR عالية الدقة لإيجاد المكثفات المتعطلة على مصادر الطاقة التحويلية والمذربوردات القديمة.
فرز أزواج ترانزيستورات متطابقة: تدريج الترانزيستورات بتكوينات hFE متطابقة للمكبرات الصوتية المتوازنة أو الدوائر الفرعية للدرايفر.
إعادة العمل الصناعي والخدمة الميدانية: التحقق السريع من الأجزاء المسحوبة من بوردات الأتمتة القديمة وPLCs وبلوكات الطاقة.
محتويات العبوة
1× مضيف جهاز اختبار متعدد ذكي FNIRSI LCR-P1
1× بطاقة اختبار SMT-to-DIP قابلة للاستبدال
3× خطاطيف اختبار Grabber احترافية (أحمر، أسود، أصفر)
1× كابل شحن/داتا USB Type-C
1× دليل الاستخدام
1× علبة تعبئة ثقيلة
📁 دليل الاستخدام والفيرموير تحميل
المواصفات التقنية
بنسجل المواصفات التقنية للمنتج ده وهتظهر هنا أول ما تخلص.
التقييمات
كن أول واحد يقيّمه وتساعد اللي بعدك يقرر.
الأسئلة الشائعة
أول ما توصلنا أسئلة متكررة على المنتج ده هنجاوب عليها هنا.
منتجات مرتبطة
قد يعجبك أيضاً
متاح للطلب
متاح للطلب
متاح للطلب
متاح للطلب
متوفر
